8bit MCU X’TAL 啟振時間量測影響因素

EM78911 and EM78P911 X’TAL 啟振時間量測影響因素

1. X’TAL 的誤差 : X’TAL 32.768KHz 因品質誤差和供應廠商的不同都會有量測的誤差.

2. 諧振電容的誤差 : 諧振電容的誤差和溫度系數的影響,會使量測產生誤差性.

3. PCB Layout 走線 : PCB Layout 和有周邊雜散電容存在,而使啟振時間有所影響.

4. 硬体電路的影響 : 電路的應用設計會有VDD 的濾波電路、RESET 電路、Bypass 電容的各種電路.這些電路的充電時間和重置時間都會影響啟振時間的快慢.

5. 生產時因素 : 各階段的生產環境及溫濕度狀態都會造成元件誤差影響.