客訴不良原因分類:
A: 外觀問題 Describe
A01
Chip Chipping 缺角, 裂痕
A02
Chip 外傷(刮壓傷)
A03
Chip 護層崩裂
A04
Edge Die
A05
Chip 表面異物殘留
A06
切割不良
A07
Pad Peeling
A08
Pad 氧化
A09
假焊
A10
Pad 污染
A11
Pad 表面矽粉殘留
A12
Bonding 後 Bonding Metal Bridge
A13
Bonding Wire Cross
A14
Others
B: 數量不符
C: 產品混料
C01
切割廠混料
C02
代理商混料
C03
客戶生產混料
C04
出貨混料
C05
Others
D: 裝配問題
D01
未使用標準電路
D02
零組件特性問題
D03
上膠過程異常
D04
零組件搭配問題
D05
Others
E: 電性問題
E01
ESD or EOS issue
E02
Latch up issue
E03
Test Coverage 不足
E04
生產誤放
E05
產品特性無法 meet product spec
E06
未測出貨
E07
次級品誤放
E08
客戶應用 out of spec.
E09
Spec out of customer’s expectation
E10
Writer 操作失當
E11
Writer 版別錯誤
E12
QTP, 燒 code 失當
E13
Data retention
E14
Product Reliability issue
E15
Product Stability issue
E16
Miss Bonding Option
E17
Others
F: 應用問題
F01
PCB Layout issue
F02
應用線路設計與產品不匹配
F03
客戶 Code issue
F04
Others
G: 良品
Google Translate
訂閱:
張貼留言 (Atom)
熱門文章
-
IFA : (1). 倒 F 型天線屬於單極天線的特例,其特點在於位在饋入點附近的接地線段和與接地面平行的發射線段 。 (2). 倒 F 型天線形成 low profile 結構,不至突出於手機外 。 (3). 倒 F 型天線其發射場形較單極天線更接近全向性的輻射...
-
The following test matrix may be used to aid in pass and fail determination of the CPE’s FSK performance. Each test shall be run 10 times. ...
-
TIA-777-A Example Script Program 2006年10月31日 02:19:19 PM UUT Information: EM78908 Number of Loops per test condition will be 5 -----...
-
ESD 靜電放電測試 由於現在的電子產品的精緻縮小和成本的降低 , 零件製程也漸趨微小化 , 但是外在環境的靜電放電發生次數及靜電電場強度 , 並未因此而減低。相反的因為產品及零件的製程縮小 , 反而使靜電放電破壞致使產品損害的產生更加嚴重。所以現在無論是產品製造商或零件元...
-
當設計有 RF 元件的 PCB 時 , 應該總是採用一個可靠的地線層。其目的是在電路中建立一個有效的 0 V 電位點 , 使所有的器件容易去耦。供電電源的 0 V 端子應直接連接在此地線層。由於地線層的低阻抗 , 已被去耦的兩個節點間將不會產生信號耦合。對於板上多個信號幅...
沒有留言:
張貼留言