a. 測試要求: ±12KV(Contact、Air)。
b. 測試方式:
先將樣機進行測試,包括正常的功能操作(提機、掛機、撥號、響鈴、通話),並記入記憶撥號。再將測試樣機置於測試桌絕緣墊上,絕緣墊厚度 10cm,加上局線電壓 48V 後,在待測樣機 On Hook(掛機)及 Off Hook(提機) 的狀態下進行 ±12KV Contact或 Air ESD 放電測試。
ESD 測試放電點為電話機按鍵面板部份、LCD 顯示屏、局線 Line cord、Handset cord、電話機本體周邊 Switch 部份、話機本體機構接縫處、Handset MIC、Handset DTR 部份。無論是點放或連續放電,每個測試點至少做 10 次放電測試,並且在 ESD 測試後樣機不可以有異常狀態。
c. 試驗標準:
(1). 在 ±12KV Contact 或 Air 測試時,除了在放電的時間除外,所有的功能都應該保持正常的操作。測試後該設備功能有劣化或不能恢復正常時,即判定 ESD 測試失敗。
(2). ESD 放電測試後,電話機不能被破壞且記憶撥號的保存要完整。
Google Translate
訂閱:
張貼留言 (Atom)
熱門文章
-
頻譜分析儀 解析頻寬 (Resolution Bandwidth, RBW) 濾波器 RBW 濾波器也稱中頻濾波器,他的作用是將 RF 頻率與本地振盪頻率相檢的信號,也就是所謂的 IF 信號,由混波器產生的眾多頻率中過濾出來。使用者可藉由頻譜分析一面板上的 RBW 控制鈕選擇不同...
-
PCB的設計在提高系統對 ESD 防制能力有著很重要的作用,在 PCB 上的走線通常是產生 EMI 的發射天線,為了把這些天線的耦合降低, PCB track 走線長度要求盡可能的短,且繞線包圍的面積要越小越好。PCB 的佈置應該要盡量避免將敏感的 IC 或電子元件器件直接連...
-
1. 電場輻射耐受性測試用各式不同頻段高功率天線接至功率放大器及信號產生器,藉以模擬輻射場強干擾待測裝備。輻射場強量測求需求,依不同頻段定有不同場強大小,單位以伏特/米(V/m)示之,待測裝備必需按正常模式下操作。 2. 以IEC 1000-4-3為例,測試設備對於規定頻譜成分...
-
客訴不良原因分類 : A: 外觀問題 Describe A01 Chip Chipping 缺角 , 裂痕 A02 Chip 外傷 ( 刮壓傷 ) A03 Chip 護層崩裂 A04 Edge Die ...
沒有留言:
張貼留言