Cypress推出超低功耗2.4GHz WirelessUSB NL收發器

上網時間:2011年09月29日
Cypress Semiconductor宣佈推出新一代2.4GHz WirelessUSB 無線電單晶片方案。新款 WirelessUSB NL晶片為製造商提供Cypress的高品質、穩定效能以及超低功耗等優勢，適合用在無線鍵盤、滑鼠、遙控器以及其他人機介面裝置(HID)。

WirelessUSB NL在1 Mbps的傳輸速率下，其接收靈敏度已提升至極為可觀的-87dBm。帶來更遠的運作距離，並可採用低功率的傳送訊號。元件擁有極低的作業與待機電流(低於1uA)，讓滑鼠在正常使用狀況下可以運作超過1年。 WirelessUSB NL 同時具備閉路式內部結構，能把訊號的頻率漂移問題減到最低，創造極穩定的無線傳輸性能。高穩定度能有效減少傳輸時的重送次數，除了降低耗電量，更能達到最高255位元組的資料承載量。

NL 元件和Cypress WirelessUSB 的其他系列一樣，在充滿2.4GHz干擾訊號的環境中─如 WiFi 、藍牙、無線電話以及微波爐等家電產品，依然能提供優異的效能。新款元件具備高整合度，僅須不到12個非關鍵性支援元件，就能組裝出一個完整的滑鼠。如此高的整合度不僅降低電路板空間、零組件成本與製造成本，更提高了整體產品的品質。滑鼠製造大廠Fuhlen已選擇WirelessUSB NL來開發新款 A50G 無線滑鼠。新款2.4GHz無線滑鼠提供同級產品中最佳的電池續航力、效能以及雜訊免疫力。

WirelessUSB NL強化Cypress旗下 enCoRe II/V 低電壓、高整合度微控制器的版圖，製造商可以從Cypress取得單一產品貨源與技術支援。 WirelessUSB NL 亦支援Cypress的 Agile HID 協定，讓客戶能直接運用現有的 WirelessUSB 產品立即著手開發其設計，不必進行其他額外的工作。Cypress針對這些解決方案推出多款參考設計方案，協助客戶加速產品的上市時程。

新元件提供4 x 4 mm 的QFN 封裝，並提供裸晶(bare die)與未切割晶圓(wafer form)的版本，支援低成本的Chip-on-Board製程。WirelessUSB NL 提供通過射頻檢測的24-QFN封裝(CYRF8935A-24LQXC)、裸晶版本(CYRF8935A-4X14C)以及未切割晶圓版本(CYRF8935A-4XW14C)。晶粒與晶圓型態的元件，即日起開始量產供貨。封裝版本預計在2011年第4季開始量產。
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ESD 測試配置

ESD 測試可區分為桌上型設備、落地型設備不同的型式,測試時要依照產品的性質而定。

桌上型設備測試配置,必須有 0.8m 高的木桌,置於接地參考平面上。1.6m x 0.8m 的水平耦合平面置於桌上,待測設備和電纜以 0.5mm 厚的絕緣墊與耦合平面隔離。如果待測設備太大,使得其四個邊離水平耦合平面小於 0.1m 時,在最短的一邊距離 0.3m 處必須使用外加的水平耦合平面,桌子也必須加大或用兩張桌子。水平耦合平面除了經由電阻性電纜連到接地參考平面外,注意不可搭接在一起,而與待測設備相關的任何裝設腳架也都必須維持其原位。

落地型設備測試配置,待測設備和電纜要以 0.1m 厚的絕緣支架與接地參考平面隔離,與待測設備相關的任何裝設腳架也都必須維持其原位。

RF PCB Antenna Verify

PLC Control

LDS PCB Layout

CID MCU COB

STM32 MCU application

通話回路

通話回路的部份,影響電話機的規格甚巨!所以電話機通話電路設計時,必須注意電路的穩定性和通用性.

此部份的電路會影響到下列幾項重要規格 :

1. Off Hook DCR. 佔線直流阻抗.

2. AC Impedance / Return Loss 交流阻抗及回流損失.

3. Transmission / Receiver Level 送收話的當量大小.

4. Transmission / Receiver Frequency response 送收話的當量頻率響應.

5. Side tone Level 側音的大小聲.

6. 通話品質.

Hook switch 電路

Hook switch 電路即電話機的掛勾電路控制,其應用必須要與 Transistor Switch 在一起.

Hook SW. 的控制電路必須設計成一分壓電路來通知電話機的核心電路 ( Dialer IC or Dialer uP ) ,使電話知道電話機的掛勾狀況,一般其 I/O ( /HS ),皆為反相的輸入方式.也就是 Off Hook 為 Low 電位, On Hook 為 Hi 電位狀態.

當 Dialer IC 得知 Hook 的目前的狀態後,其輸出 I/O ( Pulse Out )來控制 Transistor switch 電路.使電話機能夠依照 Off Hook or On Hook 的動作,來做電話佔線動作.

Transistor SW. 的功用,除了做佔線外,其 Pulse out 也受撥號積體電路控制於脈衝撥號時使用.在此電路的設計,工程師必須注意電晶体的選用和其恆流保護線路的設計.這跟電話機線路的品質及直流阻抗都有非常密切的關係!通常此部份的電晶体其 Vcbo,Vceo 都必須 ≧300V , Ic ≧500mA 以上.

振鈴積体電路 IC 特性

振鈴積体電路IC 通常我們必須注意其幾點特性 :

1.  Operating supply voltage ( Vs ) 動作供應電壓.

2.  Supply initiation voltage ( Vsi ) 啟始電壓.

3.  Sustaining voltage ( Vsus ) 持續電壓.

4.  Supply initiation current ( Isi ) 啟始電流.

5.  Sustaining current ( Isus ) 持續電流.

6.  Trigger voltage, Trigger current ( Vtr, Itr ) 觸發電壓,電流.

7.  Disable voltage, Disable current ( Vdis, Idis ) 除能電壓,電流.

8.  Output voltage ( Vo ) 輸出電壓.

9.  Oscillator frequency ( Fo ) 振盪頻率.  

RFID 電子標籤

電子標籤可分為兩部分，即電子標籤的晶片和標籤的天線。天線功能是手機閱讀器發射到空間的電磁波和將晶片本身發射的能量以電磁波的方式發射出去；晶片的功能是對標籤接收到的信號進行調節、解碼等各種處理，並把電子標籤需要返回的信號進行編碼、調製等各種處理。 

電子標籤晶片是電子標籤的核心部分，它的作用包括標籤資訊存儲，標籤接收信號處理和標籤發射信號的處理。 晶片按照功能和結構特徵劃分為射頻、類比前端、數位控制，存儲單元三大模組。

a.射頻前端 : 除了提供閱讀器和電子標籤數位模組的傳輸介面外，還提供數位電路的電源。

b.類比前端 : 超高片電子標籤類比前端處在射頻前端和後端數位電路之間，主要包括：(1). 晶片提供穩定的電壓。(2).將射頻輸入端得到的信號進行檢波，得到數位基帶所需的信號。(3). 位元數位基帶提供上電重定信號。(4). 提供晶片的穩定偏置電流。(5), 位元數位基帶提供穩定的時鐘信號等。 

c.數位控制模組: 數位控制模組由PPM解碼模組、命令處理模組、CRC模組、主狀態機、編碼模組、防碰撞控制、映射模組、通用寄存器、專用寄存器、EEPROM介面組成，其主要功能是處理類比解調後的資料，並根據需求與EEPROM通信。 

終端需求不如預期 台灣LED廠商8月營收略減

上網時間:2011年09月16日

集邦科技(TrendForce)旗下研究部門 LEDinside 統計， 2011年8月台灣上市上櫃 LED廠商營收總額約台幣84.15億元(月減2.69%、年衰退18.9%)；由於終端應用產品銷量不如預期，以及LED跌價速度過快，使客戶端拼命降低零組件庫存水位，然而因應年底耶誕節需求以及 LED背光電視的新機種開始放量，使得背光市場出現急單效應，將讓壓抑許久的 LED業者稍有喘息機會。

LEDinside觀察到未來幾年LED產業仍有供過於求的壓力，不過面對這波不景氣的衝擊，中國地區的LED磊晶廠商已經開始出現踩煞車的動作，部分廠商將MOCVD機台封存，或者是新購機台暫時不開機，甚至可能退出市場。

因此LEDinside預估 2011年中國新增的 MOCVD 機台數應該不超過400台，對於2012年LED價格的後市產生正面的影響。此外，LED產業已經進入新一波的淘汰競賽，台灣廠商長期以來面對景氣循環的應變能力較強，因此未來仍有機會在全球LED產業當中保有一席之地。

第二季LED廠商面臨到產品組合的調整，雖然大尺寸背光源需求仍為LED廠商的主要發展市場，但受到庫存壓力與終端市場需求低迷的雙重影響， LED晶片廠商的營收持續面臨壓力，8月份台灣上市櫃 LED晶片廠營收達到37.2億(月減5.9%，年衰23.9%)。

整體晶片廠僅璨圓營收表現較佳，主要因為上半年受到韓系訂單減少的影響，基期相對較低，但是8月後開始營收逐步回穩，月成長14.6%，達3.8億。LED廠商表示，9月起開始有部分急單出現，多半是使用在平板電腦或手機應用的背光源，而部分面板廠的 LED背光電視新機種也開始放量。也為沉悶以久的產業帶來些許希望。

LEDinside表示，目前中國LED磊晶廠紛紛針對 MOCVD 採購計畫與產能調配做了很大的調整，主要受到LED市場供需失調、中國地方政府財政補助減少、添購MO材料的成本與實際銷售的營收無法達到平衡、來自台灣的LED工程師數量不足等因素的影響。

現階段如三安光電、德豪潤達、保利協鑫等中國LED磊晶大廠，在面對這波不景氣的衝擊下，對於產能擴充也採取相對保守的態度，並且紛紛下修機台數量。因此LEDinside預估 2011年中國新增的MOCVD機台數應該不超過400台，對於2012年LED價格的後市產生正面的影響。

若從台灣LED封裝廠8月份的營收看來，雖持續受到背光應用市場需求低迷、晶粒價格下滑等影響，8月份台灣上市櫃LED封裝廠營收達到46.9億元，與去年同期相比，大幅減少14.5% (月減0.01%)。

提早在照明市場佈局的廠商如隆達，其營收成長動力主要來自於照明產品，佔總體營收比重近四成，8月封裝事業營收表現亮麗，達到7.6億，月成長17.9%。隆達在加速照明市場佈局之餘，自今年初已陸續接獲大型 LED照明專案訂單，並陸續開案交貨，目前以LED燈管佔出貨大宗，月出貨量已達20~30萬支，第二季發表符合日本最新JEL801規範之GX16接頭燈管也已大量出貨。

觀察LED照明市場發展，LEDinside表示該市場整體而言呈現穩定成長，但不如業界所預期的快速。傳統照明業者表示，受惠於日本代工訂單，除了JEL801規範的GX16接頭燈管出貨增加外，R17D的燈頭也廣受日本市場歡迎。

LEDinside認為，由於5月到8月為商用照明的旺季，而10月到12月則為住宅照明的旺季，若是Eco-Point政策於下半年在日本二次啟動，LED用於住宅照明市場將會大幅推升。

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慈濟電子報 - 每週證嚴法師說故事(愛的循環)

每週證嚴法師說故事 - 愛的循環

    有位陳小姐曾是知名的藝人，近幾年來十分熱心公益，投入慈濟志工不遺餘

力。有一次她坐上一輛計程車，在車上打電話和朋友聯絡，告訴對方為了  921 災後

重建，美國各地將舉辦愛心宴，她要前去

助緣。她和朋友的談話，被計程車司機聽到了，就對她說：「妳是慈濟人，就為了

921 希望工程，要專程去美國嗎？」

    陳小姐就說：「是啊！師父的負擔很重，全球慈濟人都很關心，所以在美國也將

舉辦好幾場愛心晚宴，為希望工程勸募建設基金。」

那位計程車司機就說：「在  921 那段時間，看到慈濟人那麼投入，那麼用心，真的

很感動！」

    他還說：「今天很有緣，剛好載到妳，我應該也來付出一點力量，不過我只是開

車的人，經濟能力也不是很好。我太太快要生產了，剛好今天花了  800 元買了五分

重的金鎖片，準備要給我兒子當禮物

，我就捐給你們，愛心宴上可以拍賣掉，然後捐給  921 的希望工程。」

    這位陳小姐非常感動，就把這塊金鎖片帶到美國。在主持愛心宴時，說起這位司

機先生感人的故事，大家都很感動，紛紛熱烈響應，後來一塊小小的金鎖片以

1,000   美元賣出，另外又有人再捐出

1,000 美元。買主是美國的慈濟人，他拜託陳小姐將金鎖片帶回台灣：「我被這位爸

爸感動，他太太快要生產了，妳還是將這份禮物帶回去物歸原主。」

    從這個活生生的小故事，可以看到人性中充分的愛。一位司機先生，生活環境並

不是很好，但是他盡一分愛心，這分愛心傳到美國，感動了別人，又把禮物帶回

來，想想，愛的循環是不是很美妙呢？

    如果人人能將自己的愛心奉獻出來，眾志成城、聚沙成塔，就如我常說的一句話

「滴水成河、粒米成籮」，一點一滴集中起來，就變成很大的力量，還怕什麼事情做

不到呢？

無線影音傳輸技術概述

無線影音傳輸技術，有SiBEEAM的WirelessHD、AMIMON的WHDI、Wilocity的WiGig、英特爾WiDi以及Wi-Fi協會制定中的Wi-Fi Display等規格在角逐市場。

 

WirelessHD技術，標準規格為IEEE 802. 15.3c，採用高頻譜60GHz發展基礎的純A/V影音雙向傳輸技術，傳送的影像格式為未壓縮，傳輸速率達到28Gbits，可傳輸4倍於1,920x1,080p FullHD解析度的未壓縮畫面並支援3D功能，傳送距離為10米，目前晶片供應商為SiBEAM。合作夥伴有樂金(LG)、Panasonic、Sony，筆記型電腦則有戴爾、華碩(ASUS)，週邊裝置有友旺、LG、瑞軒、Monster、Best Buy，其他廠商則有富士康與NVIDIA。

 

WHDI是由AMIMON、Hitachi、LG Electronics、Motorola、Samsung、Sharp與Sony共同創立的無線影音傳輸標準，規格為WHDI v1.0，使用5GHz頻帶傳送未壓縮的FullHD影像，傳送速率達到3Gbps，傳輸範圍為30公尺。AMIMON為唯一晶片供應廠商。合作夥伴有長虹、海爾、海信、TCL，筆記型電腦廠商則有華碩，週邊裝置則有Brite-View多媒體播放器、麗訊投影機、樂金伊諾特USB Dongle、35.com智慧型手機底座等。其他廠商如正文的嵌入式模組、大眾的平板電腦，還有亞旭、友勁、富士康、光寶、達威、兆赫等提供WHDI模組。

 

支援高速資料與A/V影音的傳輸WiGig，規格為IEEE 802. 11ad，採60GHz頻譜技術傳送未壓縮FullHD影像資料，傳送距離超過10公尺，Wilocity是唯一的晶片廠商。週邊廠商部分有海華(Azure)與Wilocity合作，於2011年CES展推出用於筆記型電腦的Pre-WiGig PCIe迷你卡與擴充底座。

 

無線壓縮影像技術的Wi-Fi Display有兩個標準，

一是Intel於2010 CES發表的WiDi技術，目前規格為WiDi 2.0。此技術限制與Intel Sandy Bridge處理器╱平台搭配，採用2.4/5GHz頻譜段，藉由接收盒將NB/PC的小螢幕內容輸出到大螢幕電視，並支援H.264壓縮功能，傳輸速率為300Mbps，傳輸距離為10公尺內。晶片供應商有英特爾、雷凌(Ra-link)，週邊廠商則有NetGear的Push2TV、羅技WiDi喇叭與友訊MainStage。

另一個則是Wi-Fi協會制定中的Wi-Fi Display標準，同樣採用2.4/5GHz頻譜段傳送壓縮影音訊號，傳輸速率與傳輸距離一樣是300Mbps、10公尺。它也將容納Wi-Fi Direct的一對一或一對多的點對點連接方式，直接與顯示器或配接器做無線影音訊號的傳送。Qualcomm與Atheros於2011年6月COMPUTEX發表Wi-Fi Display解決方案。

 

無線滑鼠技術

27MHz：全球首個採用27 MHz RF無線技術的滑鼠於1991年由羅技發佈，而這位業界巨人于1998年發佈了首款無線鍵鼠套裝。至此，採用27 MHz RF無線技術的鍵鼠產品拉開了進軍市場的序幕。作為最早使用的無線電傳輸技術，已有十多年的歷史。滑鼠和鍵盤使用不同的頻段進行信號傳遞，由於其他無線設備很少使用27MHz頻率，因此受干擾的可能性不大。27MHz RF的特點是技術成熟、成本較低，但劣勢也比較明顯：電力消耗較大、只支持單項傳輸（可能導致傳出傳入的頻率互相干擾）、傳輸距離短（僅6英尺（182.88cm））、安全級別不高。

2.4GHz：2.4G無線網路技術也稱為"2.4GHz 非聯網解決方案"，作為目前最主流、最受歡迎的無線解決方案，應用了2.4G無線技術的滑鼠可以說是遍地開花！2.4G的火爆，除了因為其解決了27MHz的種種弊端功不可沒外，尋根問底，主要還是因為該技術使用的頻率是2.4-2.485GHz ISM無線頻段，該頻段在全球大多數國家均屬於免授權免費使用，這為產品的普及掃清了最大障礙。

藍牙：藍牙技術，可以說是無線技術中的"貴族"，除了名字特別之外，還因為藍牙無線產品要交納專利費，其成本都額外增加3-5美元。藍牙無線同樣在2.4GHz 頻段下工作，所以很多用戶經常會和2.4G無線混淆。實際上，藍牙的抗干擾能力和傳輸速率都好，而且具備和其他藍牙產品互聯的能力，一般USB藍牙hub 可以同時和7個設備通訊，這樣在擴展性上遠優於2.4GHz。

5.8GHz：5.8GHz頻段是一個比2.4GHZ頻率更高、開放的ISM頻段，提供了3個100MHz U-NII（無須許可證的國家資訊基礎設施）頻段用於高速無線資料通信。這三個100MHz頻段分別是：一、5.15∼5.25GHz，規定其EIRP不大於23dBm適用於室內無線通信；二、5.25∼5.35GHz，規定其EIRP不大於30dBm，適用於中等距離通信。三、5.725∼5.825GHz，通常人們選用5.725∼5.825GHz來進行社區的寬頻無線接入，以獲得更佳的性能價格比。

ESD 測試環境的設置

ESD 測試實驗室的地板必須有銅或鋁製的金屬接地參考平面 GRP(Ground Reference Plane),其厚度至少為 0.25mm 或是也可以使用其它的金屬材質,但其 GRP 厚度至少則必須為 0.65mm。金屬參考平面的大小至少為 1㎡,其適當的尺寸是要依照待測試設備大小而定,參考平面的每一邊都應超出待測設備或耦合面至少 0.5m 以上,並且要能連接到接地保護系統,必須符合一般的安全規定。

ESD 測試時,待測設備必須依照其功能要求來安排和連接,在待測設備和實驗室的牆面,及任何其它金屬結構之間的距離至少要 1m 以上,且 ESD 待測設備必須依照其裝設規定連接到接地系統不應該再有其他的接地,電源和電纜線的位置也必須要能代表實際設備裝設的位置來配置。

另外, ESD 產生器的放電回路電纜必須連接到接地參考平面,電纜總長度一般為 2m。如果長度超過所選擇的放電點的長度,則超過的部分要儘可能放在接地平面的非導電物體上,但與其它測試配置的導電物體至少要有 0.2m 的距離。接地電纜到接地參考平面的連接和所接合之處,皆必須是低阻抗,例如在高頻時可應用鉗夾裝置。而若使用耦合平面做為間接操作放電時,其使用材質和厚度必須和接地參考平面相同,並且要有一接有 470K ohm 分洩電阻之電纜線連接到接地參考平面,這些電阻必須能承受放電電壓,且具有絕緣性,以避免當電纜放在接地參考平面時,與接地參考平面造成短路。

慈濟電子報 - 每日靜思語

「願」、「力」並行，才能滿「願」。

每日靜思語圖案 :
http://news.tzuchi.net/QuietThink.nsf/4FC712AFFFEEF5DB4825680000120D09/737C730E1895FDFF482569860008B4C9/$FILE/408.jpg

In-Cell Touch

EN61000-4-2 HBM

EN61000-4-2 靜電放電是以模擬人體放電模式(HBM)為主的測試,雖然在零件 IC 測試的 ESD MIL-STD-883E Method 3015.7 規範中也有相同模擬 HBM 的測試,但是其測試方式以及強度,兩者之間卻是不同的。而他們兩者的主要差別在於儲能的電容值和放電電阻值不同,因此所產生的放電能量及靜電峰值電流會有很大差異。在相同的 ESD 電壓下, EN61000-4-2 的放電電阻值是 MIL-STD-883E 的 1/5,而峰值放電電流則是 MIL-STD-883E 的 5 倍,所以換言之 EN61000-4-2 是在更嚴苛的要求條件下,對產品進行 ESD 測試,也因此現在的電子產品設備廠都會採用 EN61000-4-2 來做為 ESD 的測試標準。

電磁相容 EMC 規範概述

EMC 電磁相容的規範中,包括了 EMI 和 EMS 二大類,而 ESD EN61000-4-2 是目前一般業界最常使用的電子產品靜電放電測試依據,是屬於 EMC 規範中 EMS EN55024 電磁耐受性測試項目的其中一類。
EMS 的定義為某一裝置或系統在具有功用運行的過程當中,不會受到周圍電磁環境影響的能力稱為 ”電磁波耐受性”。EMS 的主要測試項目及條件如下：
1. EN61000-4-2 靜電放電試驗 (ESD):
模擬人體所帶靜電對電子產品的影響,試驗條件是對所有接觸面,經空氣的放電試驗至 15KV,接觸試驗測試至 8KV。正負極性都要測試,至少要各放電 10 次,放電間隔維持約 1 秒。
2. EN61000-4-3 耐射頻輻射試驗 (RS):
由天線輻射出射頻頻率,以試驗電子產品對於射頻干擾的耐受性程度。射頻的干擾頻率的範圍為 80MHz ~ 1GHz,試驗條件標準為 1V/m、3V/m、10V/m 在隔離室進行干擾測試,天線與機器距離為 3 公尺。
3. EN61000-4-4 耐脈衝雜訊試驗 (EFT):
耐脈衝雜訊試驗是在模擬開關 on/off 切換時所產生的脈衝狀雜訊對電子產品的影響。干擾頻率為 5kHz,試驗電壓標準為 0.25 ~ 4KV,脈衝狀雜訊波形為 5/50n 秒。
4. EN61000-4-5 雷撃突波試驗 (Surge):
模擬感應雷擊對電子產品的影響。雷撃突波試驗試驗電壓是 0.5 ~ 4KV,電壓波形為 1.2/50μsec,電流波形是 8/20μsec,通信線試驗的電壓波形是 18/700μsec,正負極性都要做測試。
5. EN61000-4-6 耐射頻傳導試驗 (CS):
CS 是模擬當有傳導性射頻電波直接由電源線或信號線注入時,對電子產品的影響測試。試驗電壓為1V、3V、10V,頻率範圍為 150KHz ~ 80MHz。
6. EN61000-4-8 耐電源頻率磁場試驗 (PFMF):
主要是在模擬電流流經電源線所產生電源頻率磁場對電子產品的影響程度。試驗標準為 1A/m、3A/m、10A/m、30A/m、100A/m。
7. EN61000-4-11 耐電壓瞬降、瞬斷及變動試驗 (DIP):
在模擬電源電壓發生快速瞬降、瞬斷及緩慢連續變動時,電子產品所受到的影響。試驗電壓為額定電壓的 0%、40%、70% 電壓變化,其持續時間為 0.5cycle、1cycle、5cycle、10cycle、25cycle 及 50cycle。

Touch on Lens

傳統玻璃式投射電容觸控面板，係將玻璃基板加工後，經過ITO鍍膜，再經過黃光製程，製作成觸控感測器，然後與表面玻璃和TFT-LCD液晶面板貼合，製成觸控面板模組。而所謂Touch on Lens觸控面板，則是指將觸控ITO直接鍍在表面玻璃上的觸控技術解決方案。

傳統光學觸控和 In-Cell 光學觸控

傳統的光學式的特色在於，感測元件的佈建位置是在螢幕的角落或是四周，也無需考慮面板貼合的良率問題，同時透光率也高於電容式與電阻式。因此，該技術非常適合開發大尺寸的終端裝置。像是目前的AIO（All-In-One）PC或是互動式電子看板，都十分適用。但就機構設計上，螢幕四周會因為搭載感測鏡頭的關係，而有所突起，所以螢幕無法達到全平面的外觀設計。

In-cell光學式觸控的作法，是在傳統面板的每個畫素上加上影像感測鏡頭，以光線的明暗程度來進行觸控動作。同樣的，該技術也少了觸控螢幕的貼合，概念上符合In-cell的基本理念。同時也解決了傳統光學式的外觀設計的問題。

In-cell(內嵌式)觸控

觸控面板可分為on-cell(外掛式)及in-cell(內嵌式)兩種，on-cell是將觸控感測器製作於彩色濾光片的表層，in-cell則是將觸控感測器製作於面板結構中，可在細分為電阻式、電容式、光學式，由於感測器在面板結構中容易受到訊號干擾，因此目前市面上產量仍少。

內嵌式觸控面板常見的有：(一)內嵌光學式，需要透過特殊光筆，遮蔽光線感應。 (二)內嵌電阻式。 (三)內嵌電容式。 (四)表面電容式。其中內嵌電阻式觸控螢幕無法做到多點觸控功能，因此僅剩製造成本低廉的優勢；相對內嵌光學式與內嵌電容式成為市場主流。

內嵌式觸控面板產品主要應用於手機、數位攝錄機、數位相機、可攜式多媒體播放器、可攜式導航裝置、PDA、數位相框、行動上網裝置等。

內嵌式觸控面板顯示技術特色如下：
整合觸控功能於Driver、模組薄化、 提供不同觸控媒介架構(觸控筆及指尖輸入辨識、手指觸碰辨識)、 多點輸入、 精准度可縮小至以點為單位，不再需要校準。

WLAN網路自身的同頻干擾

同頻干擾是指兩個工作在相同頻率上的WLAN設備之間的相互干擾。

WLAN工作ISM（Industry, Science and Medicine）頻段，包括2.4G和5G兩個頻段。對某些國家或地區來說，僅有2.4G頻段可用。在2.4G頻段上，互不干擾的頻段十分有限，通常只有1、6、11通道。

WLAN干擾

無線干擾按照類型可劃分為WLAN干擾和非WLAN干擾。

WLAN干擾是指干擾源發送的RF信號也符合802.11標準，除此之外都是非WLAN干擾。對WLAN干擾，可進一步按照頻率範圍分為同頻干擾和鄰頻干擾。按照來源劃分，可分為WLAN網路自身的互干擾和網路外的干擾。

靜電放電發生的原因

靜電放電發生的原因大概可以歸納分為三大類型,其分別為人體放電、機械裝置放電和家俱摩擦放電。

人體放電,主要成因為人體的動作摩擦所產生的靜電,例如當我們行走於地毯上,鞋子與地毯摩擦而產生電荷感應於人體,此時我們若有去碰觸到電子產品或元件時,電荷就會經由我們的身體感應對所接觸的電子產品產生放電,導致電子產品因此受損。

機械裝置放電,一般都會發在自動化控制流程當中,像機械設備金屬與絕緣物品的摩擦、液體或高壓氣體流過產生的摩擦靜電..等,當電荷能量累積到某一程度後而對鄰近形成放電的情形。

家俱摩擦放電,則通常會發生在家俱與絕緣物品的摩擦,譬如與地板、地毯的摩擦或是人體衣物與座椅間的摩擦放電..等。

這三種靜電放電產生型式,尤其是人體放電對電子產品的危害最為嚴重,國際間對於此人體放電的測試也更加嚴謹。因此為了確保電子產品的對於靜電破壞的防制,一般電子產品廠商都會要求其產品必須符合標準規範美規 IEC61000-4-2 或歐規 EN61000-4-2 的測試才會接受。然而想要讓電子產品具有靜電防制能力並通過測試,除了要注重半導體元件的 ESD 的防護力以外,更必需從產品系統設計的一些防制技術著手,才能真正做到對靜電放電破壞有效的防護。

ESD 靜電放電的破壞

靜電放電的破壞,對電子產品來說是一種很難避免的問題。一旦電子產品受到 ESD 的作用後,往往會產生不可預期的不穩定動作現象,例如讓電子產品功能突然失常,必需重開電源開關才能回復正常,或是讓電子產品內部的電子元件不堪受到靜電的電壓或電流破壞,而造成電器內部的電子元件損壞等。靜電放電的形成是具有不同靜電電位的物體,經由直接接觸或靜電感應引起物體間的靜電電荷轉移。這種在靜電場的能量達到一定的程度後,會擊穿其介質而進行放電現象,其發生的放電電壓的高低會因摩擦物件材質和外在的環境的溫濕度不同,會產生不同程度的放電現象。例如靜電荷在人造纖維產品且乾燥的空氣兩個條件同時存在下特別容易產生,但在其充電的過程中仍存在有許多可能的變化,依據人造纖維的型式和環境相對濕度的不同,放電電壓可能會有高達到數 KV 以上的電壓。

分析師：2011下半年晶片市場仍有些許樂觀跡象

上網時間:2011年09月05日

由分析師Bill Jewell創立的顧問機構 Semiconductor Intelligence 指出，2011下半年電子產業景氣有些許樂觀跡象，但該機構仍將 2011年晶片市場成長率預測值，由原先的9%下修為4%。
Jewell表示，下修該預測值的主要原因，是 2011年第二季半導體市場表現衰弱，而這當然會拉低整年度市場成長率。雖然有不少分析師認為第二季的衰弱，是因為西方國家的經濟低迷與對再度出現景氣蕭條的恐懼；但Jewell將第二季的半導體市場衰退，歸咎於311日本大地震對半導體供應鏈造成的影響。

「情況並沒有那麼糟；」Jewell指出，消費者心態可能讓某些領域表現衰退，但整體消費性與商業電子產品支出仍然強勁。舉例來說，美國消費者對休閒娛樂產品與車輛的支出，在2011年第一季與第二季分別成長75%與15.3%，這部分支出有75%是電子類產品；此外美國企業對設備與軟體的投資，在第一季與第二季也分別有8.7%與7.9%的成長。

Jewell認為，晶片產業第二季面臨的問題主要是日本；當季日本市場較第一季衰退了8.1%，而世界其他區域也受到影響，晶片市場表現呈現0.9%的季衰退。

而Jewell指出，近期有數家股票上市晶片公司的財報預測都頗為樂觀，例如瑞薩(Renesas)預估2011年第三季晶片營收(以日圓計)將反彈成長23%，英特爾(Intel)、超微(AMD)與高通(Qualcomm)也在財報中預測第三季營收可健康成長，幅度在7~11%，符合正常季節性水準。不過德州儀器(TI)與意法半導體(ST)的財報預測較為悲觀，表示第三季營收恐略為衰退。

各家半導體業者對2011年第三季營收預測
（來源：Semiconductor Intelligence）

「儘管歐美市場整體經濟狀況不佳，但半導體市場的主要驅動力仍相對健全，因此半導體產業應該會在2011下半年與2012年持續呈現緩慢成長；」Jewell總結指出，Semiconductor Intelligence對2012年全球晶片市場成長率的預測，維持在10%。

編譯：Judith Cheng

(參考原文： Analyst sees upside in 2H11 chip market，by Peter Clarke)


此文章源自《電子工程專輯》網站:
http://www.eettaiwan.com/ART_8800650604_480202_NT_6e09e770.HTM 

Speaker Phone IC

Smith Chart 軟體模擬

CID TYPE II TIA-777-A Example Test Record

TIA-777-A Example Script Program
2006年10月31日  02:19:19 PM
UUT Information:
EM78908

Number of Loops per test condition will be 5
------------------------------------------------------------
A)  Variable Level Sensitivity Test_Type2
PASS       Test #1  Sensitivity test (no twist)
PASS       Test #2  Sensitivity test (with twist)
PASS       Test #3  High level input test
PASS       Test #4  Intermediate level test #1
PASS       Test #5  Intermediate level test #2
PASS       Test #6  Intermediate level test #3
B)  Twist Test - Nominal Otherwise_Type2
PASS       Test #7  +6 dB Twist, High Level
PASS       Test #8  +6 dB Twist, Low Level
PASS       Test #9  +8 dB Twist, High Level
PASS       Test #10  +8 dB Twist, Low Level
PASS       Test #11  +10 dB Twist, High Level
PASS       Test #12  +10 dB Twist, Low Level
PASS       Test #13  -3 dB Twist, High Level
PASS       Test #14  -3 dB Twist, Low Level
PASS       Test #15  -6 dB Twist, High Level
PASS       Test #16  -6 dB Twist, Low Level
C)  Combined Impairments - Frequencies, Baud, Twist_Type2
PASS       Test #17  0dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #18  0dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #19  0dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #20  0dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #21  0dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #22  0dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #23  0dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #24  0dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #25  +3dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #26  +3dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #27  +3dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #28  +3dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #29  +3dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #30  +3dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #31  +3dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #32  +3dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #33  +6dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #34  +6dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #35  +6dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #36  +6dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #37  +6dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #38  0dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #39  +6dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #40  +6dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #41  +8dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #42  +8dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #43  +8dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #44  +8dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #45  +8dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #46  +8dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #47  +8dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #48  +8dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #49  +10dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #50  +10dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #51  +10dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #52  +10dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #53  +10dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #54  +10dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #55  +10dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #56  +10dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #57  -3dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #58  -3dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #59  -3dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #60  -3dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #61  -3dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #62  -3dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #63  -3dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #64  -3dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #65  -6dB Twist, Low Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #66  -6dB Twist, Low Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #67  -6dB Twist, High Mark, Low Space, Low Baud
PASS       Test #68  -6dB Twist, High Mark, High Space, Low Baud
PASS       Test #69  -6dB Twist, Low Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #70  0dB Twist, Low Mark, High Space, High Baud
PASS       Test #71  -6dB Twist, High Mark, Low Space, High Baud
PASS       Test #72  -6dB Twist, High Mark, High Space, High Baud
D)  Noise Tests_Type2
PASS       Test #73  Noise Freq at 20 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #74  Noise Freq at 40 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #75  Noise Freq at 60 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #76  Noise Freq at 80 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #77  Noise Freq at 120 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #78  Noise Freq at 180 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #79  Noise Freq at 200 Hz @ -6 dB S/N
PASS       Test #80  Noise Freq at 300 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #81  Noise Freq at 700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #82  Noise Freq at 1200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #83  Noise Freq at 1700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #84  Noise Freq at 2200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #85  Noise Freq at 2700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #86  Noise Freq at 3100 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #87  Noise Freq at 3200 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #88  Noise Freq at 4000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #89  Noise Freq at 5000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #90  Noise Freq at 8000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #91  Noise Freq at 10000 Hz @ +6 dB S/N
F)  Noise Tests_Type2 with +10dB FSK Twist
PASS       Test #111  Noise Freq at 20 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #112  Noise Freq at 40 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #113  Noise Freq at 60 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #114  Noise Freq at 80 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #115  Noise Freq at 120 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #116  Noise Freq at 180 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #117  Noise Freq at 200 Hz @ -6 dB S/N
PASS       Test #118  Noise Freq at 300 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #119  Noise Freq at 700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #120  Noise Freq at 1200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #121  Noise Freq at 1700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #122  Noise Freq at 2200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #123  Noise Freq at 2700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #124  Noise Freq at 3100 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #125  Noise Freq at 3200 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #126  Noise Freq at 4000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #127  Noise Freq at 5000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #128  Noise Freq at 8000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #129  Noise Freq at 10000 Hz @ +6 dB S/N
G)  Noise Tests_Type2 with -6dB FSK Twist
PASS       Test #130  Noise Freq at 20 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #131  Noise Freq at 40 Hz @ -24 dB S/N
PASS       Test #132  Noise Freq at 60 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #133  Noise Freq at 80 Hz @ -13 dB S/N
PASS       Test #134  Noise Freq at 120 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #135  Noise Freq at 180 Hz @ -9 dB S/N
PASS       Test #136  Noise Freq at 200 Hz @ -6 dB S/N
PASS       Test #137  Noise Freq at 300 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #138  Noise Freq at 700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #139  Noise Freq at 1200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #140  Noise Freq at 1700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #141  Noise Freq at 2200 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #142  Noise Freq at 2700 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #143  Noise Freq at 3100 Hz @ +25 dB S/N
PASS       Test #144  Noise Freq at 3200 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #145  Noise Freq at 4000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #146  Noise Freq at 5000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #147  Noise Freq at 8000 Hz @ +6 dB S/N
PASS       Test #148  Noise Freq at 10000 Hz @ +6 dB S/N

Test Finished at:  2006年10月31日  03:07:01 PM
Script Program ended at: 03:07:01 PM  2006年10月31日
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