2. 測試電壓不穩造成
Over-voltage(過高電壓) 或
Over-current (過高電流)
3. NOISE導致 IC Latch up.
4. 測試時IC方向誤放.
這是 Molex Liao 的通訊部落格,這裏記錄了我的點點滴滴外. 還有一些通訊及電子技術的研究心得以及一些訓練管理資料,例如 Caller ID、GPS、Bluetooth、2.4G RF、EMC、ESD、Telephone、Touch pad/Touch key、Mouse、OFN 和人資與訓練管理、TTQS..等等. 歡迎您來一起分享!!
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