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2011年8月14日 星期日

EOS可能産生原因

1. 測試電壓或電流超過 datasheet所定之最大值
2. 測試電壓不穩造成 Over-voltage(過高電壓) 或 Over-current (過高電流)
3. NOISE導致 IC Latch up.
4. 測試時IC方向誤放.

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