這是 Molex Liao 的通訊部落格,這裏記錄了我的點點滴滴外. 還有一些通訊及電子技術的研究心得以及一些訓練管理資料,例如 Caller ID、GPS、Bluetooth、2.4G RF、EMC、ESD、Telephone、Touch pad/Touch key、Mouse、OFN 和人資與訓練管理、TTQS..等等. 歡迎您來一起分享!!
2011年8月28日 星期日
Microwave Oven AC Noise and ESD TEST
A. AC Line NOISE ( common mode ) : + Loads / Microwave oven operationally.
一. Impulse noise simulator test condition :
1. Noise output voltage : +-1200Vmin. ~ +- 2000Vmax.
2. Pulse width : 50ns/100ns/200ns/250ns/400ns/1us max.
3. Line phase : 90∘/ 270∘.
4. Variable : slow ~ fast.
二. Loads :
把1000g +-5g的水倒入到空試驗用容器中,測得實際倒入的水質量,把試驗用容器立即放到微波爐內腔的擱架上,擱架處於微波爐內腔中最低正常位置,接通電源.
B. AC Line NOISE ( Normal mode ) : + Loads / Microwave oven operationally.
一. Impulse noise simulator test condition :
1. Noise output voltage : +-1200Vmin. ~ +- 2000Vmax.
2. Pulse width : 50ns/100ns/200ns/250ns/400ns/1us max.
3. Line phase : 90∘/ 270∘.
4. Variable : slow ~ fast.
二. Loads :
把1000g +-5g的水倒入到空試驗用容器中,測得實際倒入的水質量,把試驗用容器立即放到微波爐內腔的擱架上,擱架處於微波爐內腔中最低正常位置,接通電源.
C. ESD TEST : No Loads / Microwave oven no operation.
一. ESD simulator test condition : ESD output voltage : +-15000V.
二. Discharge mode : Contact discharge.
一. Impulse noise simulator test condition :
1. Noise output voltage : +-1200Vmin. ~ +- 2000Vmax.
2. Pulse width : 50ns/100ns/200ns/250ns/400ns/1us max.
3. Line phase : 90∘/ 270∘.
4. Variable : slow ~ fast.
二. Loads :
把1000g +-5g的水倒入到空試驗用容器中,測得實際倒入的水質量,把試驗用容器立即放到微波爐內腔的擱架上,擱架處於微波爐內腔中最低正常位置,接通電源.
B. AC Line NOISE ( Normal mode ) : + Loads / Microwave oven operationally.
一. Impulse noise simulator test condition :
1. Noise output voltage : +-1200Vmin. ~ +- 2000Vmax.
2. Pulse width : 50ns/100ns/200ns/250ns/400ns/1us max.
3. Line phase : 90∘/ 270∘.
4. Variable : slow ~ fast.
二. Loads :
把1000g +-5g的水倒入到空試驗用容器中,測得實際倒入的水質量,把試驗用容器立即放到微波爐內腔的擱架上,擱架處於微波爐內腔中最低正常位置,接通電源.
C. ESD TEST : No Loads / Microwave oven no operation.
一. ESD simulator test condition : ESD output voltage : +-15000V.
二. Discharge mode : Contact discharge.
一般OTP 與Mask版本差異的主要原因及改善方式 :
一般OTP 與Mask版本差異的主要原因及改善方式
:
1. I/O sink 與driver current 因製程不同所產生的差異:
透過Standard IO 制度的建立, 往後將可選擇最接近的IO來改善此一狀況.
2. 單一OTP產品支援多種近似mask時程式相容性的問題:
3. 相同function , OTP與mask結果不同:
若是差異可利用軟體解決者, 則在Spec中將提出軟體寫法; 若是無法由軟體避免, 則將差異詳述於Spec中.
4. Electrical Characteristic:
Spec中僅列出該產品規格.
5. 產品改版造成的差異:
6. mask 產品改版處理流程:
RP前: 更新客戶SPEC, 並註明差異.
RP後: 更新客戶SPEC, 註明差異, 請客戶針對修改部分做程式修改,並重新投OTP與mask code.
CIDCW CAS TONE IC Verify(7)
Talk down and Talk off test
( With sidetone circuit )
VDD = 2.6V ( EMTD_TO.SC1 )
Talk down
|
|||
Signal Level ( dBm )
|
Speech Level ( dBm )
|
Number of CAS
Pulses receiver
|
Number of CAS
Pulse sent
|
-30
|
-7
|
1049
|
1440
|
-28
|
-10
|
1411
|
1440
|
-28
|
-15
|
1410
|
1440
|
-30
|
-23
|
1439
|
1440
|
-22
|
-19
|
1440
|
1440
|
-26
|
-26
|
1440
|
1440
|
Condition 1 : 100 % ( Bellcore spec. 99.5 % )
|
|||
Condition 2 : 98.352 % ( Bellcore spec. 93.0 % )
|
|||
Condition 3 : 99.891 % ( Bellcore spec. 99.5 % )
|
|||
Talk off
|
||
Near end speech level(
dBm )
|
Number of hits for near end speech
|
Length of test ( Hr )
|
-7
|
0
|
3.9
|
-10
|
0
|
3.9
|
-15
|
0
|
3.9
|
-23
|
0
|
3.9
|
-19
|
0
|
3.9
|
-26
|
0
|
3.9
|
CIDCW CAS TONE IC Verify(6)
Talk down and Talk off test
( Without sidetone circuit )
VDD = 2.6V ( EMTD_TO.SC1 )
Talk down
|
|||
Signal Level ( dBm )
|
Speech Level ( dBm )
|
Number of CAS
Pulses receiver
|
Number of CAS
Pulse sent
|
-30
|
-7
|
411
|
1440
|
-28
|
-10
|
825
|
1440
|
-28
|
-15
|
948
|
1440
|
-30
|
-23
|
1243
|
1440
|
-22
|
-19
|
1334
|
1440
|
-26
|
-26
|
1438
|
1440
|
Condition 1 : 96.319 % ( Bellcore spec. 99.5 % )
|
|||
Condition 2 : 79.308 % ( Bellcore spec. 93.0 % )
|
|||
Condition 3 : 96.1 % ( Bellcore spec. 99.5 % )
|
|||
Talk off
|
||
Near end speech level(
dBm )
|
Number of hits for near end speech
|
Length of test ( Hr )
|
-7
|
0
|
3.9
|
-10
|
0
|
3.9
|
-15
|
0
|
3.9
|
-23
|
0
|
3.9
|
-19
|
1
|
3.9
|
-26
|
0
|
3.9
|
CIDCW CAS TONE IC Verify(5)
VDD = 3.6V, CAS Twist = +-
8dB
1
|
2
|
4
|
5
|
AG8889AP
|
||
1.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –14dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
2.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –30dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
3.
|
2130 Hz –14dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
4.
|
2310 Hz –30dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
CIDCW CAS TONE IC Verify(4)
VDD = 3.6V, CAS Twist = +-
7dB
1
|
2
|
4
|
5
|
AG8889AP
|
||
1.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –15dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
2.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –29dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
3.
|
2130 Hz –15dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
4.
|
2310 Hz –29dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
CIDCW CAS TONE IC Verify(3)
VDD = 3.6V, CAS Twist = +-
6dB
1
|
2
|
4
|
5
|
AG8889AP
|
||
1.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –16dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
2.
|
2130 Hz –22dBm
2750 Hz –28dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
3.
|
2130 Hz –16dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
4.
|
2310 Hz –28dBm
2750 Hz –22dBm
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
OK
|
訂閱：
文章 (Atom)
熱門文章
-
1. 電場輻射耐受性測試用各式不同頻段高功率天線接至功率放大器及信號產生器，藉以模擬輻射場強干擾待測裝備。輻射場強量測求需求，依不同頻段定有不同場強大小，單位以伏特/米(V/m)示之，待測裝備必需按正常模式下操作。 2. 以IEC 1000-4-3為例，測試設備對於規定頻譜成分... -
1. 一般特性 ( General ) : L1 frequency 、 C/A code 、 12-channel 。 此特性為一般衛星接受器模組所表示的基本接受功能 , 標註著衛星接受器的接收頻率與訊號碼和接受衛星頻道數 , 例如 L1 frequency ...
-
頻譜分析儀 解析頻寬 (Resolution Bandwidth, RBW) 濾波器 RBW 濾波器也稱中頻濾波器，他的作用是將 RF 頻率與本地振盪頻率相檢的信號，也就是所謂的 IF 信號，由混波器產生的眾多頻率中過濾出來。使用者可藉由頻譜分析一面板上的 RBW 控制鈕選擇不同... -
來話顯示的規格如果依其傳輸方式來區分,世界上主要有二種傳輸方法.一種為較簡易的雙音複頻 ( DTMF : Dual Tone Multi-Frequency ) 和另一種速度快,傳輸資料較複雜的移頻鍵控 ( FSK : Frequency Shift Keying ) 的方式. ...
-
PCB的設計在提高系統對 ESD 防制能力有著很重要的作用,在 PCB 上的走線通常是產生 EMI 的發射天線,為了把這些天線的耦合降低, PCB track 走線長度要求盡可能的短,且繞線包圍的面積要越小越好。PCB 的佈置應該要盡量避免將敏感的 IC 或電子元件器件直接連...